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    Beam显微光束分析仪
    删除信息打印此文 发布时间:2022/11/30 9:46:17
    信息类型:供应


    μBeam显微光束分析仪



    μBeam

    显微光束分析仪

    整个系统包括一个独立的操作控制台,一个由CCD探测器和辅助的高倍放大的光学系统。这个标准配置由一个安装基座支撑CCD和光学系统,可选的配置是一个显微镜型可调器件。可选择的是:这个系统可提供 USB2.0接口。

    主要特征:

    测量小于0.5um(FWHM)的光束,处理连续或脉冲光束,长工作距离,使用一个高分辨800,000像素的CCD,为快光束的放大或缩小。

    可测量的参数:强度轮廓、 光束位置和光束形状

    型号:







    µBeam-X-USB2.0:
    µBeam-X-SA:
    X:

    Complete system based on a USB 2.0 interface.
    Complete system based on Stand-Alone unit.
    select type of lens: x10, x20, x50, x100


    激光系列产品

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    Beam显微光束分析仪
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    Published at 2025/5/22 0:46:35, Powered By v1.0.0(MSSQL)